（SMART LOCK:智能锁）

客户反馈在批量生产阶段，32.768KHz晶振不起振，导致所生产的智能锁开机系统紊乱，无法正常使用。

通过与客户沟通，了解到：该类型智能锁开机后，芯片捕捉32.768KHz晶振提供的时钟信号，完成系统诊断无误后，方可正常开机。问题就发生在芯片捕捉时钟信号失败这个环节，因此判定晶振不起振。

客户选用的为我司生产的晶振32.768KHz，负载电容CL=12.5pF，调整频差：±20PPM。我司取回怀疑为不良品的晶振进行单体测试，结果显示各项电气参数均属于正常范围。

我司工程师与客户现场测试智能锁上电后晶振工作状态，发现智能锁开机系统紊乱现象重现，但测得晶振处于工作状态，频率信号已输出，但芯片却无法成功捕捉。

分析该型号芯片没有对应该晶振输出的频率范围，导致开机失败。建议客户核对芯片型号并确认所需晶振类型。最终发现客户所需32.768KHz晶振负载电容应为7pF。这个参数已经在芯片应用方案中有明确注明。

更换为负载电容CL为7pF的32.768KHz晶振之后，智能锁开机正常，不良现象不再重现。

注：

1、32.768KHz晶振常用负载电容CL为12.5pF，但同时也存在6pF、7pF、9pF等负载。选择哪种负载电容CL主要取决于芯片对晶振的要求。

2、经验证，若32.768KHz晶振的负载电容CL选错，无法通过调整外接电容值大小来改善设备故障问题。