（负性阻抗测试）

在晶振电路中的同等条件下，增大电容负载，会降低裕量；提高反向放大器的跨导，会增大裕量；晶振内阻越大，裕量越小。反之亦然。

在真实的大规模生产中，最常用的测试裕量的方法是负阻测试，具体操作步骤如下：

在晶振支路上串联一个电阻，这个阻值的大小一般为3到5倍的晶振内阻（如果是医疗或汽车级别的应用，这个阻值应为5到10倍的晶振内阻），当加入这个负载电阻后，如果整个晶振电路还是可以正常起振，我们就基本上可以判定这个晶振拓扑是稳定的。要注意这个负载电阻仅仅是用于裕量测试，不可以存在于正式生产时的电路板上。

当系统通过了负性阻抗测试，但发现晶振的振幅很小，会有影响吗？

振幅小没关系，晶振电路内部都有放大器，会保证晶振电路的可靠稳定工作。如果信号经由放大后，幅值还是小，就要考虑负载的问题了。而如果在晶振管脚上看到了饱和现象，这时候就需要进行调整。

晶振电路内部是一个反相器，反相器工作在放大区，同时放大器的内部还并联一个电阻，这个电阻构成了反馈电路，同时也是用来调整晶振的工作点。一般情况下，用户不需要在外部电路再加入OSC1和OSC2的并联电阻，但还是可以在需要的情况下，通过在外部并联电阻（一般来说阻值为M级）来对放大器的工作点进行微调。另外一个方法是，在晶振的放大器输出管脚上串一个电阻。这个电阻一般有两个作用，一个作用是用来做选频，另一个作用是限制晶振驱动电路的输出电流，保证晶振工作在一个稳定的频点上，不会因为电流过驱而把晶振烧坏。