当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 晶诺威科技晶振产品老化试验解释 作者:晶诺威科技 时间:2022年07月05日 浏览量:1510 关于晶诺威科技晶振产品老化试验解释如下: 通过计算晶振工作寿命大于15年。 老化试验温度:105±5℃和85±5℃,每个温度时间:250±12小时,实验结束后24±2小时内进行电性能测试。 无源晶振(石英晶体谐振器): ±3ppm/ year max. 有源晶振(石英晶体振荡器): ±3ppm/ year max. 根据数据得出:晶振首年老化速度显著,最大±3ppm,后续趋于稳定。 标签:Frequency Aging, 晶振年老化率 上一篇: 不同封装尺寸晶体/无源晶振的激励等级参考 下一篇: TXC 8Y24000028 晶振SMD2016 24MHz规格说明 推荐产品 OSC3225 SMD3215 OSC5032