当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 8.192MHz无源晶振SMD5032 测试及温测数据 作者:晶诺威科技 时间:2022年10月03日 浏览量:1162 关于晶诺威8.192MHz无源晶振SMD5032 20PF ±20PPM 测试及温测数据,整理如下: 8.192MHz无源贴片晶振SMD5032 测试数据,包括:FL、RR、C0、C1、C0/C1、DLD2、RLD2、SPDB、Q、TS、SPUR等。在常温下(+25℃),实测数据如下: 8.192MHz无源晶振SMD5032 20PF ±20PPM温测数据如下: 注:温测范围:-40~+85℃ PPM值随温度变化数据如下: 电阻随温度变化数据如下: 标签:8.192MHz晶振, PPM值随温度变化数据, 无源晶振测试数据, 晶振常温测试数据, 晶振测试数据, 晶振温测数据, 电阻随温度变化数据 上一篇: 晶诺威OCXO恒温晶振主要电气参数(中英文) 下一篇: 频率Frequency和频率控制Frequency Control指的是什么? 推荐产品 SMD7015 OSC3225 OCXO-9M