当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 晶振SMD3225 40MHz 9PF常温下测试数据及高低温数据 作者:晶诺威科技 时间:2023年04月10日 浏览量:956 晶诺威科技产晶振SMD3225 40MHz 9PF测试数据(常温下测试) 晶诺威科技产晶振SMD3225 40MHz 9PF高低温测试数据(-40~+85℃) 表一:频率PPM随温度变化曲线 表二:晶振电阻随温度变化曲线 标签:40MHz晶振, 9PF晶振, test data, 晶振常温测试数据, 晶振测试数据, 晶振温测数据, 晶振电阻, 晶振电阻随温度变化曲线, 晶振高低温测试, 蓝牙晶振, 载波频率, 频率PPM随温度变化曲线 上一篇: 什么是晶体谐振器的标称频率Nominal Frequency? 下一篇: 微型高精度有源晶振OSC2016特点优势 推荐产品 SMD7050-LVDS TCXO-DIP8-2 VCXO5032