±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?

±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?

32MHz上板测试严重超差:-73ppm

±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?晶诺威科技解释如下:

即使无源晶振频率精度为±10ppm,也不能说明其在电路实际应用中可以输出±10ppm精度的频率信号。

±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?

(IC手册对32MHz的参数要求)

案例分析:

晶振型号:无源贴片晶振

封装尺寸:SMD2016

标称频率:32MHz

负载电容:CL=6PF

频率精度:±10ppm

应用方案:蓝牙模组

上板实测32MHz输出频率严重超差:-73ppm。这只能说明一个问题,晶振32MHz没有在理想条件下工作,因此无法输出设备所需的精准度为±10ppm的频率(31.999680~32.000320MHz)。

究其原因,当晶振受到负载电容不匹配或电路板杂散电容之影响时,实质上已经处于偏离频率中心点工作状态。当晶振输出频偏严重超差时,就会造成设备功能性故障,如蓝牙设备不联机或掉线等。

建议:

±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?

大部分情形下下,频偏发生在负载电容不匹配的无源晶振电路应用中。因此,请实测上电后晶振的频偏程度,通过微调外接电容的方式,对频偏进行校正。

晶诺威科技产32MHz无源贴片晶振SMD2016单体测试数据如下:

±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?

(负载电容CL=6PF测试数据)

±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?

(负载电容CL=8PF测试数据)

±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?

(负载电容CL=9PF测试数据)

±10ppm晶振32MHz上板测试为何严重超差?

(负载电容CL=10PF测试数据)

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