关于晶振发烫问题，晶诺威科技解释如下：

晶振分为无源晶振和有源晶振两大类如上图所示，其应用电路如下：

无源晶振发烫

排除工作环境温度对其的影响，最可能出现的情况是芯片对晶振提供的激励功率过大，导致了过驱。晶诺威科技建议通过调整（增大）串联电阻来降低激励功率（Drive level）。

有源晶振发烫

首先排除短路问题，然后确认有源晶振的电压输入脚是否正确，下一步确认输入电压是否符合额定电压的要求范围。一般情况下，实际输出电压不可高于额定电压的10%。

拓展阅读：晶振坏了会有什么现象？晶诺威科技归纳如下：

时钟信号不稳定：

当晶振出现故障时，其产生的时钟信号可能会变得不稳定。这表现为时钟频率的波动、时钟脉冲的畸变或时钟信号的丢失。这种不稳定性的结果可能导致电子设备运行缓慢、响应超时或出现随机错误。

设备性能下降：

由于晶振提供的时钟信号是电子设备运行的基础，因此，当晶振损坏时，设备的整体性能可能会受到影响。这可能表现为处理速度下降、数据传输速率降低或系统响应时间延长。

死机或重启：

在严重的情况下，如果晶振故障导致时钟信号完全丢失或严重畸变，电子设备可能会出现死机或不断重启的现象。这给用户带来了极大的不便，并可能对设备的硬件造成进一步的损坏。

软件运行异常：

许多电子设备中的软件程序依赖于稳定的时钟信号进行计时和任务调度。当晶振故障时，这些软件程序可能会受到影响，表现为运行错误、任务超时或程序崩溃。

硬件控制失灵：

在某些应用中，如工业控制、智能仪表等，晶振提供的时钟信号用于精确控制硬件的行为。当晶振损坏时，这些控制功能可能会失灵，导致设备运行异常或出现安全风险。

噪声与杂散信号：

晶振故障还可能导致电路中出现噪声和杂散信号。这不仅干扰了正常的信号传输，还可能对其他电路元件造成损害。

温度异常升高：

由于晶振内部的物理变化或电路的异常工作，晶振损坏可能导致其温度异常升高。这不仅对晶振本身造成损害，还可能对周围元件造成热损坏。

电磁辐射增强：

当晶振损坏时，可能产生较强的电磁辐射，对周围的电子设备和系统造成干扰。这可能导致通信中断、数据丢失或其他电磁兼容性问题。

显示异常：

在具有显示功能的电子设备中，如电视、显示器、计算机等，晶振故障可能导致屏幕显示异常。这表现为图像闪烁、颜色失真或画面不完整等。

响应时间延迟：

在需要实时响应的系统中，如通信设备、控制系统等，晶振故障导致的时钟信号不稳定可能导致系统响应时间延迟，影响系统的实时性能和准确性。