关于对晶振单体判定的方法，晶诺威科技归纳四点如下：

1、测电压：

使用万用表直流电压档测量晶振两端的电压。正常起振时，电压应接近芯片供电电压VCC的一半。如果发现晶振两端的电压有明显偏差，例如一边接近VCC或接近0V，这可能表明晶振没有起振。

2、观察波形：

使用示波器观察晶振两端的波形。起振时，应能看到清晰、整齐的波形。若波形异常或完全没有波形，这可能表示晶振不起振。

3、测试频率：

使用频率计数器测试晶振的输出脚或输入脚频率。如果无法测得稳定的、接近晶振标称频率的频率值，而是出现杂乱的频率，这通常意味着晶振没有起振。

4、使用专业测试仪器：

使用如250B等专业测试仪器对晶振进行单品测试，这些仪器能够精确地测量晶振是否输出其标称频率。

如果晶振不良，可以使用这些仪器进一步测试晶振的相关参数，如R、DLD2、SPDB、DLD2、TS等，以了解晶振不良的具体原因。如无源晶振22.1184MHz测试数据如下：