晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD3225测试数据及温测数据如下:
注:
常温测试环境及参数设置:
+25℃
CL=20pF
Frequency Tolerance=±10ppm
ESR≤150Ω
温度测试环境设定:
-40~+85℃
(SMD3225-10MHz晶振常温下测试数据)
(温度变化下SMD3225-10MHz晶振频率及电阻变化曲线图)
(温度变化下SMD3225-10MHz晶振频率及电阻变化数据)
晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD3225测试数据及温测数据如下:
注:
常温测试环境及参数设置:
+25℃
CL=20pF
Frequency Tolerance=±10ppm
ESR≤150Ω
温度测试环境设定:
-40~+85℃
(SMD3225-10MHz晶振常温下测试数据)
(温度变化下SMD3225-10MHz晶振频率及电阻变化曲线图)
(温度变化下SMD3225-10MHz晶振频率及电阻变化数据)