当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 无源贴片晶振10MHz SMD3225测试数据及温测数据 作者:晶诺威科技 时间:2024年03月12日 浏览量:406 晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD3225测试数据及温测数据如下: 注: 常温测试环境及参数设置: +25℃ CL=20pF Frequency Tolerance=±10ppm ESR≤150Ω 温度测试环境设定: -40~+85℃ (SMD3225-10MHz晶振常温下测试数据) (温度变化下SMD3225-10MHz晶振频率及电阻变化曲线图) (温度变化下SMD3225-10MHz晶振频率及电阻变化数据) 标签:10MHz晶振, 晶振常温测试数据, 晶振温测数据 上一篇: Terminal land connections, output waveform and standby function of OSC2016 32.768KHz 下一篇: 无源贴片晶振10MHz SMD5032测试数据及温测数据 推荐产品 SMD8038 SMD3225 SMD2016