晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD5032 试数据及温测数据如下:
注:
常温测试环境设定及参数设置:
+25℃
负载电容(CL)=20pF
调整频差(Frequency Tolerance)=±10ppm
等效阻抗(ESR)≤60Ω
温度测试环境设定:
-40~+85℃
(无源贴片晶振10MHz SMD5032常温测试数据)
(无源贴片晶振10MHz SMD5032温测数据:频率变化及电阻变化)
晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD5032 试数据及温测数据如下:
注:
常温测试环境设定及参数设置:
+25℃
负载电容(CL)=20pF
调整频差(Frequency Tolerance)=±10ppm
等效阻抗(ESR)≤60Ω
温度测试环境设定:
-40~+85℃
(无源贴片晶振10MHz SMD5032常温测试数据)
(无源贴片晶振10MHz SMD5032温测数据:频率变化及电阻变化)