当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 无源贴片晶振10MHz SMD5032测试数据及温测数据 作者:晶诺威科技 时间:2024年03月12日 浏览量:582 晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD5032 试数据及温测数据如下: 注: 常温测试环境设定及参数设置: +25℃ 负载电容(CL)=20pF 调整频差(Frequency Tolerance)=±10ppm 等效阻抗(ESR)≤60Ω 温度测试环境设定: -40~+85℃ (无源贴片晶振10MHz SMD5032常温测试数据) (无源贴片晶振10MHz SMD5032温测数据:频率变化及电阻变化) 标签:10MHz晶振, SMD5032无源晶振, 无源晶振测试数据, 晶振常温测试数据, 晶振温测数据 上一篇: 无源贴片晶振10MHz SMD3225测试数据及温测数据 下一篇: 为什么长时间工作后晶振频率精度变差了? 推荐产品 OSC3225 OSC5032 OCXO-2X