当前位置: 首页 > 技术支持 > 解决方案 > 正文 晶诺威科技恒温晶振测试电路(Test Circuit for OCXO) 作者:晶诺威科技 时间:2025年02月07日 浏览量:117 晶诺威科技产恒温晶振测试电路(Test Circuit for OCXO)如下: 注: Vcc为供电引脚 Vc为压控功能(可选) GND为接地引脚 Output为频率信号输出引脚 Output Waveform为输出波形:方波CMOS 标签:bypass capacitor, OCXO恒温晶振, OCXO恒温晶振测试电路, OCXO恒温晶振特点及应用, OCXO恒温晶振规格型号, Test Circuit for OSC, test data, 方波测试电路, 旁路电容, 晶振常温测试数据, 晶振高低温测试, 温测曲线 上一篇: 晶振负载电容CL=10pF和20pF有什么区别? 下一篇: GT切特制晶振:最高可耐200度高温工作 频率稳定度±50ppm 推荐产品 SMD7050-HCSL M49SMD TCXO-DIP14-2