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如何使用示波器测试晶振是否起振?2022-07-06如何使用示波器验证晶振已经起振? 1、针对有些⽰波器,如果探头不打到衰减档可能会引起晶振停振,因此请首先将探头调至衰减档10X档位。 2、给电路板正常上电。 3、⽤⽰波器探头连接晶振两个管脚中任意⼀个引脚与地线。 4、如果⽆源晶振已经起振,当示波器探头测试晶振两个管脚时,即可以观测到振荡波形且频率与…
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关于晶振受热起振或受热停振的问题2022-07-05受热起振或受热停振,都说明晶振的工作不稳定。 那么,为何在电路中,晶振会因工作温度的变化而出现频率不稳定的现象呢? 原因有二:一则是晶振本身品质不良;二则是振荡电路出现问题。 首先,当晶振本身品质不良,常见为晶振电阻在某个高温区域出现跳变,主要是突然变大时,晶振将会停振。另外一种现象是晶振低温停振。…
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如何满足石英晶体振荡器的振荡条件?2022-07-04石英晶体振荡器的振幅条件是振荡起动及能正常持续振荡的条件,回路上的负性电阻绝对值│-R│。 负性电阻 |- R| = Rtest + Re Rtest=与晶振串联连接纯电阻 Re=振荡时的有效电阻=R1(1+C0/CL)^2 建议振荡宽限为晶振等效串联电阻RR的5倍之上:│-R│≥ 5RR;电路进入…
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晶片破损及电阻值变异引发晶振停振问题分析2022-07-02晶片破损及电阻值变异引发晶振停振问题分析如下: 不良晶振为49S与圆柱体晶振,安装方式为手工焊接。不良品在我司S&A 250B上测试,数据如下: 数据组1 数据组2 数据组3 数据组4 排除误判以外,分析如下: 1、针对测试数据组1~3及晶振49S不良品开壳观测,发现晶片出现裂…
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关于针对晶振进行防静电保护的重要性2022-07-01什么是静电放电(英文 ESD - Electrostatic Discharge)? ESD(“静电放电”)是由电绝缘材料中的大电位差引起的火花或击穿,从而产生非常短的高电流脉冲。 物体的静电荷是由不同材料的摩擦电引起的。放电会损坏敏感的电子元件。例如,穿着绝缘性能良好的鞋子在绝缘性能良好的地板上移…
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无源晶振起振电路设计:C0/C1,CL及RR说明2022-07-01无源晶振起振电路设计:关于C0/C1, CL及RR说明如下: C0/C1对晶体稳定性的影响 晶体(无源晶振)的静态电容C0和动态电容C1大小,与晶片电极面积大小(体积大小)成正比,不同厂家设计C0也有差异。 同一频率C0/C1的不同会影响振荡电路的稳定性: C0/C1大,频率上升到标称频率前电抗变大…
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有源晶振脚1输出:三态Tri-state,使能OE,E/D及待机ST解释2022-07-01关于有源晶振三态Tri-state,使能OE, E/D及待机ST的知识(BTW,英语较好的小伙伴们可以轻松受益了),解释如下: 有源晶振(石英晶体振荡器)的脚1(又被称之为1号脚或pin#1)通常是Output Enable(OE)或者Enable/Disable (E/D)。也会叫做Stand-b…
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晶振功耗,晶振起振时间与晶振相噪2022-07-01我们在追求晶振输出频率高精度及高稳定性的同时,也对其功耗、起振时间及相噪等三方面提出了更高要求。 显而易见,当前智能化电子产品呈现高精密化及网络通信设备呈现数据高速化等趋势。具备小尺寸和低功耗的晶振适合在移动设备和穿戴设备中使用,而该类电子产品的特点为:电源电压、电流、体积、功耗相应减小、驱动能力变…
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针对晶振单体进行温测的重要性2022-06-28工作环境的温度变化对晶振有两个方面的直接影响,一是频率,二是电阻。这两个参数都是晶振的关键电气参数。 首先,晶振都有“温漂”现象,这是石英晶体本身的物理特性所决定。晶振工厂主要是通过改变石英晶片切型方式及后期对石英晶片的再加工技术,来尽可能降低“温漂”对晶振频率的影响。晶振的应用基本原理是,其实际输…
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晶诺威科技晶振单体及上板上电测试电路匹配范例2022-06-27晶诺威科技晶振单体及上板上电测试电路匹配范例,具体步骤如下: 举例:假设电路中晶振名称:X1 X1晶振电气参数:无源贴片晶振SMD3225-4pin, 16MHz, ±10PPM, CL=12pF, ECR<40Ω 测试环境及设备: 环境: 在室温25°C±3°C 和湿度 50 ~70% Rh…