-
负载电容CL选择错误导致32.768KHz晶振时间不准或停振
2022-06-13如上图所示,在某一款芯片对晶振32.768KHz规格要求中,晶振主要电气参数如下: 标称频率Nominal Frequency: 32.768KHz 负载电容CL: 8PF 等效电阻ESR:40KΩ 工作温度范围Operating Temperature Range:-40~+85℃ 频率稳定度Fr… -
DLD2不良导致晶振休眠原因分析
2022-05-17关于DLD2不良导致晶振休眠原因,分析如下: DLD2 英文为Drive Level Dependency。为在不同的功率驱动晶振时,所得之最大阻抗与最小阻抗之差。 DLD2越小越好,当晶振制程受污染时,则DLD2值会偏高,导致时振与时不振现象,即 “晶振休眠”。好的晶振不会因驱动功率变化而产生较高… -
单片机无源晶振的作用是什么?晶振不起振怎么办?
2022-05-16单片机无源晶振的作用及重要性 单片机无源晶振的作用是为系统提供基本的时钟信号。通常一个系统共用一个晶振,便于各部分保持同步。不同型号的单片机使用的无源晶振型号及频率也可能不同。单片机中的无源晶振若是出了问题,单片机也就无法正常工作了。 引起单片机无源晶振不起振的原因主要有以下六点: 1、PCB板布线… -
晶振不起振的三个实际案例分析及解决方法
2022-03-23晶振不起振的三个实际案例分析及解决方法如下: 1、32.768KHz晶振频率精度不够或与电路匹配不佳,会直接影响主板系统时钟的准确性,出现时钟走不准的问题。而对于一些主板,如开机系统诊断需要32.768KHz正常起振作为参考,32.768KHz晶振不起振则会导致主板不上电或上电后全板无复位。 建议遇… -
晶振不起振导致系统不工作案例分析
2022-03-21晶振不起振导致系统不工作案例分析如下: 涉及晶振类型: 无源晶振 不良现象: 系统偶发性停止,且不良现象具有重现性。 初步分析: 晶振外接电容与负载电容不匹配,导致晶振不起振,从而引发系统不工作。 测试及分析过程: 首先万用表测量AD输出引脚(串行输出,连接MCU),AD输出端没有转换完成信号(一个… -
晶片点胶不良引发的晶振故障/停振
2022-03-03由石英晶片点胶不良可能引发晶振故障/停振原因解析如下: 晶片点胶区域不良如下: 点胶面积过小放大图如下: 晶片导电胶的作用主要为: 1、 实现石英晶片与金属支架之间的牢固连接 2、 实现晶片镀银层与基座之间的电流正常导通 因此可见,若导电胶本身性能不良,如固着性能差,则可能导致晶片在自身振荡条件之下… -
引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图
2022-03-02引发晶振电阻跳变原因之一:晶片制程不良 1、晶片不良区域 2、晶片不良区域经更大倍数放大后,显示边缘残缺。 分析及结论: 石英晶片是石英晶振的核心部件,当晶振(包括石英晶片)制程发生不良,如出现晶片残缺、晶片平滑度不达标、镀银前晶片洁净度不达标、镀银工艺不达标、镀银后晶振内部洁净度不达标(其中包括微… -
怎么检查晶振有没有起振?
2022-03-01首先,晶振分为无源晶振和有源晶振两大类,它们在电路应用中存在差异。一般情况下,检查晶振有没有起振主要发生在无源晶振的应用方面。 晶振无时钟信号输出 1、无源晶振具备两个管脚:频率输入脚与频率输出脚。若无源晶振已经起振,说明这两个管脚之间必然存在电压差,这样才会有流经的电流对晶片产生激励功率。但是,我… -
晶振频率及/或电阻跳变引发开机不良原因分析
2022-02-28针对晶振不良品(5pcs)温测(-40℃~125℃),数据显示在指标内不同低温段及高温段,晶振出现频率跳变及/或电阻跳变现象: 针对晶振不良品开盖观测,发现石英晶片表面附着异物,如下图所示: 石英晶片表面附着异物放大图: 关于晶振电阻跳变问题,晶诺威科技分析如下: 引发晶振频率跳变及/… -
在无程序或程序错误条件下晶振会起振吗?
2022-02-24在无程序或程序错误条件下晶振会起振吗? 答:在无程序或程序错误条件下,单片机外部晶振不会起振,即:不会工作。 程序与外部晶振的工作关系解析如下: 通电开机后,当系统从内部时钟源切换到由晶振提供的更为精准的外部时钟源时,单片机硬件会通过程序尝试对外部晶振两端施加电压(如:提供激励功率(D…