2022-06-15

（负性阻抗测试） 在晶振电路中的同等条件下，增大电容负载，会降低裕量；提高反向放大器的跨导，会增大裕量；晶振内阻越大，裕量越小。反之亦然。 在真实的大规模生产中，最常用的测试裕量的方法是负阻测试，具体操作步骤如下： 在晶振支路上串联一个电阻，这个阻值的大小一般为3到5倍的晶振内阻（如果是医疗或汽车级…

2022-05-16

关于无源晶振振荡条件与接地电容之间的关系，晶诺威科技介绍如下： 各种逻辑芯片的无源晶振引脚可以等效为电容三点式振荡器。 无源晶振引脚的内部通常是一个反相器, 或者是奇数个反相器串联。在无源晶振输出引脚 XO 和晶振输入引脚 XI 之间用一个电阻连接, 对于 CMOS 芯片通常是数 M 到数十M 欧之…