深圳市晶诺威科技有限公司
首页
产品中心
晶体谐振器
晶体振荡器
32.768KHz晶振
温补振荡器
恒温振荡器
差分振荡器
车规级晶体
热敏晶体(TSX)
展频晶振
技术支持
晶振知识
解决方案
应用指南
品质保障
品质管控
品质体系
可靠测试
环保报告
新闻资讯
晶振资讯
科技前沿
产品应用
消费类电子
安防监控
汽车电子
网络通信
信息通信设备
智能终端
物联网
工业自动化
航空航天
关于我们
公司简介
合作伙伴
厂区概况
发展历程
无冲突矿产承诺
联系我们
晶振休眠
当前位置:
首页
>
标签归档: 晶振休眠
DLD2不良导致晶振休眠原因分析
2022-05-17
关于DLD2不良导致晶振休眠原因,分析如下: DLD2 英文为Drive Level Dependency。为在不同的功率驱动晶振时,所得之最大阻抗与最小阻抗之差。 DLD2越小越好,当晶振制程受污染时,则DLD2值会偏高,导致时振与时不振现象,即 “晶振休眠”。好的晶振不会因驱动功率变化而产生较高…
了解更多
Copyright © 2019
深圳市晶诺威科技有限公司
All Rights Reserved
粤ICP备11048232号
电话咨询
在线咨询
微信咨询
top
电话:0755-23068369
扫码立即咨询
电话咨询
在线咨询
返回顶部