• 晶振使用常见问题归纳及解释
    2023-06-05
    关于晶振使用中的常见问题,晶诺威科技归纳及解释如下: Common problems include the build up of contaminants on the PCB, hermetic seal fracture, and issues caused by an inadequate…
  • 一种常用的测试裕量方法介绍:负性阻抗测试
    2022-06-15
    (负性阻抗测试) 在晶振电路中的同等条件下,增大电容负载,会降低裕量;提高反向放大器的跨导,会增大裕量;晶振内阻越大,裕量越小。反之亦然。 在真实的大规模生产中,最常用的测试裕量的方法是负阻测试,具体操作步骤如下: 在晶振支路上串联一个电阻,这个阻值的大小一般为3到5倍的晶振内阻(如果是医疗或汽车级…
  • 晶诺威科技晶振产品常见问题及使用注意事项
    2022-04-12
    晶振产品常见问题及使用注意事项归纳如下: 1.一般清洁溶液或超声波清洁(Ultrasonic cleaning)方法可用于清洁我司的晶振产品。但是,在某些情况下,超声波清洗机会在晶振产品的振荡频率下产生共振,从而造成晶振电气特性的恶化,甚至损坏晶振的整体结构。因此,建议在超声波清洁前进行验证测试。 …
  • 晶振不良或不起振问题汇总
    2021-09-14
    (无源晶振电路) 晶振不起振问题汇总如下: 1、频率偏移超出正常值。 解决办法:当电路中心频率正偏时,说明CL偏小,可以增加晶振外接电容Cd和Cg的值。当电路中心频率负偏时,说明CL偏大,可以减少晶振外接电容Cd和Cg的值。 2、晶振在工作中出现发烫,逐渐出现停振现象。 排除工作环境温度对其的影响,…
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