2022-06-15

（负性阻抗测试） 在晶振电路中的同等条件下，增大电容负载，会降低裕量；提高反向放大器的跨导，会增大裕量；晶振内阻越大，裕量越小。反之亦然。 在真实的大规模生产中，最常用的测试裕量的方法是负阻测试，具体操作步骤如下： 在晶振支路上串联一个电阻，这个阻值的大小一般为3到5倍的晶振内阻（如果是医疗或汽车级…