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晶振测试项目都有哪些?2023-09-30晶振测试项目都有哪些? 晶振性能参数测试的目的是通过评估晶振的各项指标,确保其满足设计要求。关于关键性能参数测试方法,晶诺威科技介绍如下: 1、负载电容测试 负载电容是晶振在特定电路条件下的电容负载。测试负载电容时,需要使用LCR表测量晶振两端的电容值,确保它与设计规格相符。 2、驱动电平测试 驱动…
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晶体振荡器的Start-up Time指的是什么?2023-08-06晶体振荡器的Start-up Time指的是什么? 答:启动时间。 解释: Start-up Time is the time taken for an oscillator waveform to stabilise within specification after power is appl…
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晶振受干扰变慢是什么原因?2020-12-21一般情况下,晶振起振变慢主要是受到作用于无源晶振的激励功率变弱之影响。激励功率的大小是由时钟芯片所决定,为无源晶振提供必要的起振条件。激励功率的影响主要来自晶振外接电容过大或电路板杂散电容过多,尤其是负载较小的晶振受影响更大。 当发现晶振起振变慢,建议对晶振周边杂散电容进行屏蔽。尝试在检测晶振实际输…